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如何利用光源的不同波長進行表面缺陷檢測

利用光源的不同波長進行表面缺陷檢測,可以通過以下幾種方法實現(xiàn):

1. 圖像處理技術(shù)與多光譜圖像技術(shù):

圖像處理技術(shù)通過對獲取的圖像進行處理和分析來識別表面缺陷。在不同光照條件下,圖像的質(zhì)量和特征會受影響,因此需要對圖像進行預(yù)處理,如直方圖均衡化改善對比度,以及去噪聲處理,從而提高瑕疵檢測的準(zhǔn)確性。

多光譜圖像技術(shù)利用不同波段的光譜信息進行表面瑕疵檢測。通過采集多種光譜波段的圖像,能夠在不同光照條件下獲得更多的表面信息,進而提高檢測的精度和可靠性。

2. 紫外光的應(yīng)用:

紫外光在缺陷檢測中,特別是對于塑料、油漆和標(biāo)簽等材料,能顯示出可見光無法顯示的缺陷。紫外光能被許多材料吸收,可以捕獲產(chǎn)品表面的圖像,并且由于紫外光具有比可見光更短的波長,因此能被產(chǎn)品的表面特征散射,從而用于檢測用可見光無法檢測到的特征。

在反射UV成像和紫外熒光成像中,紫外光照射到對象上,并使用對UV敏感的相機捕獲圖像,熒光材料將吸收UV輻射后再輻射更長的散射波長,這有助于檢測缺陷。

3. 針對不同缺陷選擇合適的光源:

對于反光且外形不規(guī)則的物體,可使用多角度多光譜光源,通過計算顏色分布和圖像陰影變化,準(zhǔn)確突出物體表面的層次信息。

針對大面積大視野的樣品檢測,條形光源和背光源是首選,能突出物體的外形輪廓等特征。

如何利用光源的不同波長進行表面缺陷檢測

背部打光用于凸顯產(chǎn)品外形輪廓,可用于檢測是否存在孔洞和間隙、邊緣檢測等。

高角度光和低角度光分別適用于不同的檢測場景,如字符識別、凹坑、劃傷檢測等。

4. 照明優(yōu)化與濾光片的使用:

通過控制光源發(fā)射的波長,可以幫助更容易地識別細節(jié)。例如,使用濾光片可以實現(xiàn)計算機視覺的近紅外檢測和對比度增強,雖然會減少到達傳感器的光量,但能提高圖像的清晰度。

利用光源的不同波長進行表面缺陷檢測,需要結(jié)合圖像處理技術(shù)、多光譜圖像技術(shù)、紫外光的應(yīng)用以及針對不同缺陷選擇合適的光源和照明優(yōu)化方法。這些方法能夠提高檢測的精度和可靠性,滿足工業(yè)生產(chǎn)和質(zhì)量控制的需求。