電子元器件外觀檢測設(shè)備(自動檢測產(chǎn)品外觀尺寸大小及缺陷)
發(fā)布日期:2021-03-17
一、檢測內(nèi)容及要求檢測內(nèi)容: 序號 檢測位置 檢測方式 是否可檢 備注 1 尺寸檢測 背光檢測 可檢 局部檢測 注明:電子元器件外觀檢查設(shè)備檢測項目,均需在影像下清晰可見才能檢測。檢測效率:每分鐘檢測數(shù)量 不低于60件(取決于...
發(fā)布日期:2021-03-17
一、檢測內(nèi)容及要求檢測內(nèi)容: 序號 檢測位置 檢測方式 是否可檢 備注 1 尺寸檢測 背光檢測 可檢 局部檢測 注明:電子元器件外觀檢查設(shè)備檢測項目,均需在影像下清晰可見才能檢測。檢測效率:每分鐘檢測數(shù)量 不低于60件(取決于...